16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現(xiàn)貨報價

賽默飛FEL 部分配件耗材

16830 離子源

4035 273 12631   拔出極

4035 273 6 7441 光闌

4035 272 35991 抑制極

4035 272 35971  拔出極

1058129   拔出極

1301684  Suppressor 抑制極

1096659 Aperture 光闌

1346158  PT 

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分辨率的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統(tǒng)，可為包括磁性和非導電材料在內的各種樣品提供出色的樣品制備與 3D 表征性能 。Scios 2 DualBeam 通過創(chuàng)新的功能設計提高了通量、精度以及易用性，是滿足科學家和工程師在學術、政府以及工業(yè)研究領域高級研究和分析需求的理想解決方案。

高質量亞表面和 3D 信息

通常需要進行亞表面或三維表征以更好地理解樣品的結構和性質。Scios 2 DualBeam 及可選配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟件可提供高質量、全自動的多模式 3D 數(shù)據(jù)集采集，包括用于最大材料對比度的背散射電子 (BSE) 成像、用于組成信息的能量色散光譜 (EDS) 以及用于微觀結構和晶體學信息的電子背散射衍射 (EBSD)。與 Thermo Scientific Avizo 軟件組合使用后，Scios 2 DualBeam 可為納米級的高分辨率、高級 3D 表征以及分析提供的工作流程解決方案。

以超高分辨率提供完整的樣品信息

創(chuàng)新的 NICol 電子色譜柱為系統(tǒng)的高分辨率成像和檢測能力提供了基礎。它適用于多種工作條件，無論是在 30 keV 的 STEM 模式下（訪問結構信息）還是以較低能量（獲得無電荷的詳細表面信息）運行，都可以提供出色的納米級細節(jié)。Scios 2 DualBeam 具有的鏡筒內 Thermo Scientific Trinity 檢測系統(tǒng)，專用于同時采集角和能量選擇二級電子 (SE) 以及 BSE 成像數(shù)據(jù)。不僅可以快速訪問從上到下的詳細納米級信息，還可快速訪問傾斜的樣品或交叉切片的信息。可選配的透鏡下檢測器和電子束減速模式可以快速、便捷地同時采集所有信號，揭示材料表面或交叉切片中最小的特征。具有全自動對齊功能的 NICol 色譜柱，可獲得快速、準確、可重現(xiàn)的結果。

快速、便捷地制備高質量 TEM 樣品

科學家和工程師不斷面臨新的挑戰(zhàn)、需要對越來越復雜的樣品的更小特征進行高度局部表征。Scios 2 DualBeam 的創(chuàng)新與可選、易用和全面的 Thermo Scientific AutoTEM 4 軟件以及賽默飛世爾科技的應用專業(yè)知識相結合后，可支持客戶快速方便地制備用于多種材料的 自定義高分辨率 S/TEM 樣品。為了獲得高質量結果，需要使用低能量離子進行最終拋光，以盡可能減少對樣品表面的損壞。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦離子束 (FIB) 鏡筒不僅能夠在高電壓下具有高分辨率成像和銑削能力，還具有良好的低電壓性能，能夠創(chuàng)建高質量的 TEM 薄片。

16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現(xiàn)貨報價

主要特點

快速、便捷的制備

使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質量、現(xiàn)場特定的 TEM 和原子探針樣品。

超高分辨率成像

使用在廣泛的樣品范圍（包括磁性和非導電材料）內具有性能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜柱。

最完整的樣品信息

通過各種集成式色譜柱內和透鏡下檢測器獲得清晰、精確和無電荷的對比度。

高質量、多模式亞表面和 3D 信息

使用可選配的 AS&V4 軟件，通過精確靶向感興趣區(qū)域來獲得高質量、多模式亞表面和 3D 信息。

精確的樣品導航

高度靈活的 110 mm 載物臺和腔室內 Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機允許根據(jù)具體應用需求進行定制。

無偽影成像和構成圖案

具有專用模式，如 DCFI、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式。

優(yōu)化您的解決方案

靈活的 DualBeam 配置，包括可選配的最高 500 Pa 腔室壓力低真空模式，可滿足具體的應用要求。

規(guī)格